薄膜的晶界與層錯_外觀瑕疵

吹膜時可能有膜卷漏掉電暈處理的；膜厚度過大或不均勻引起電暈效果不夠(外觀檢測)；吹膜是加入太多的爽滑劑或髙爽滑粒料比例過大引起電暈效果大幅度下降。12~15umPET膜出現兩麵的電暈效果相差不大時，容易引發印刷膜卷背粘故障。印刷膜的電暈要求：BOPP，PE≥38達因，PET≥50達因，NY≥52達因。NY膜吸水後並不會對電暈效果産生較大影響，判斷NY膜是否吸水看膜有無收縮起趨現象，剪一張膜放進烘箱幾個小時，手感是否發硬，如果有起趨，發硬等現象，則該NY膜吸水過多

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1．晶界

和塊狀材料相似，薄膜中各晶粒之間由於相對取向的不同，而出現瞭接觸界麵，即通常所謂的晶界，因此品界是把結構相同但位向不同的兩個晶粒分隔開來的一個麵缺陷。

2．層錯

所謂層錯就是在薄膜的生長過程中由於晶麵的正常堆垛次序遭到破壞而出現的晶格缺陷。而心立方晶體中｛錶麵檢測｝麵兩種基本類型的層錯可以錶示爲

．．．ABC AC ABC．．．

．．．ABC ACBC ABC．．．

前者相當於從正常準垛次序小抽掉一層晶麵，因而稱爲抽出型層錯；後養相當於個正常堆垛次序中加入一層額外的晶麵，因而稱爲插入型層錯。堆垛層錯破壞瞭晶體的完整性，引起晶體能量的昇髙。與單位麵積堆垛層錯相聯係的能至稱爲層錯能。層錯僅僅破壞瞭原子的次鄰近關係，並沒有破壞原子的至鄰近關係，亦即左層錯處隻有從連續二層原子的關係才能發現與正常堆垛次序的差别；如果僅僅取出相鄰的兩層原子來看，就不存在“錯誤”。因此與至鄰近原子又係受到破壞的一般晶界能比較起來，層錯能要小得多。

薄膜的厚度是一個重要的參數。一般而言，厚度有三種概唸即幾何厚度、光學厚度和質量厚度。幾何厚度指膜層的物理厚度。

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